技術服務

電子光學設計計算

  解決電子、質子等粒子在磁場、電場以及其他作用下的運動情況分析,包括追蹤粒子運動軌跡、作用在設備中每個器件上粒子數的百分比、粒子在探測器上的焦斑尺寸等。通過對系統各電極參數的優化設計和電子軌跡的模擬,包括電子發射過程的抽樣;各電極電場的計算;電子軌跡的追蹤;電子束飛行時間、空間位置、以及角度等的分布計算,達到期望的系統技術指標。

粒子離子等的蒙特卡洛模擬

  三維復雜結構中的中子、光子、電子等的蒙特卡洛模擬,應用于輻射防護與射線測定、輻射屏蔽設計優化、反應堆設計、(次)臨界裝置實驗、醫學以及檢測器設計與分析等學科領域。本實驗室主要涉及到的方面電子、粒子和物質作用過程,模擬計算包括X射線光子作用在CsI閃爍體上的光電效應求解,電子出射方向求解等;電子轟擊金屬靶后能量轉換效率分析等。

紫外探測器測試標定實驗

  利用實驗室現有紫外單色儀(McPherson紫外單色儀)、汞燈、氘燈等光源,結合紫外平行光管(口徑Φ50mm)、標準分辨率板(USAF1951)光功率計(美國Newport公司C918D)和標準探測器(美國IRD公司AXUV100)、皮安表(美國吉時利C6487)等儀器設備,可以開展120-400nm紫外探測器的測試標定實驗,包括其時間分辨、量子效率、空間分辨等指標測試。

X射線脈沖輪廓發射地面模擬實驗系統

  依托現有的X射線脈沖地面仿真系統(X射線脈沖模擬源、X射線熒光單色儀、真空系統、準直型/聚焦型X射線探測器及電子學處理系統等),實驗測試分析光子流量、噪聲水平、觀測時間等不同條件下探測器對X射線脈沖的響應、提取和數據處理,結合各種脈沖星導航計算方法,為脈沖星導航的系統指標論證和總體規劃提供依據。地面測試驗證實驗包括探測器的地面測試標定和脈沖輪廓的累積還原等,是脈沖星導航研究的必要手段,相比于搭載實驗,具有周期短、風險低、成本低等優勢,可為脈沖星導航探測器的研究及方案選擇、性能比較,導航算法的研究及算法優劣的評估等提供支撐。

X射線探測器測試標定實驗

  利用X射線熒光單色儀和標準X射線探測器(美國AMPTEK公司SDD及PX5電子學系統),對各種類型的X射線探測器的功能和性能進行試驗,包括:通過X射線熒光單色儀產生不同能量的X射線光子,測試探測器的能譜響應范圍、能量分辨以及不同能量下的探測器效率;通過產生不同的脈沖星輪廓,驗證探測器對脈沖輪廓的提取功能;通過產生超短X射線脈沖,測試探測器的時間分辨;通過對輻射流量和空間本底的模擬,測試探測器的靈敏度。

真空鍍膜服務

  利用實驗室真空鍍膜機(現代南光ZZS-660),可開展電子束和電阻熱蒸發兩種原理制備薄膜,膜厚測量精度為0.1nm,沉積速率精確為0.01nm/s,工件通過自轉及公轉確保薄膜厚度均勻性。實驗室常制備的薄膜有碘化銫、氧化物等介質薄膜及金、銀、鉻、鍺、鎳、鈀和銥等金屬薄膜。

真空系統及方案設計

  開展以真空技術為基礎的各種非標科研設備和工業生產設備的方案論證、系統設計、集成測試等。

 

 

 

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