科研成果

  星敏感器光學系統參數測試設備和高精度畸變測試設備:能夠對各類恒星敏感器、地球敏感器、月球敏感器光學系統的焦距、入瞳、工作距、視場角、彌散斑、色偏差、畸變等光學性能參數進行測試。光學系統畸變測試精度最高可達0.02‰,彌散斑測試重復性優于0.5μm,色偏差測試重復性優于0.5μm;該實驗平臺是我國唯一能進行敏感器系列光學性能測量的平臺,其測試能力達到國內領先水平。

  紫外弱光星等模擬器:主要用于各種探測相機的星等探測能力的標定和信噪比測量。有效測量口徑500mm,可對光譜范圍200nm~2500nm的+3Mv~+16Mv星等進行模擬,模擬精度達到±0.2個星等。

  點源透過率(PST)雜光測試系統:主要用于各類不同光學系統,成像相機,探測相機視場外點源透過率(PST)的測試。PST測試量程:10-10~1,最低測量能力:優于10-13,測量口徑:850mm,角度測量范圍:±180°,測量精度:優于1%。該平臺目前為國內唯一PST測量極限能力能達到10-10的雜光測試平臺。

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